Glaser, M., & Kochsiek, M. (2000). Comprehensive mass metrology. Weinheim ; New York: Wiley-VCH.
Citación estilo ChicagoGlaser, Michael, và Manfred Kochsiek. Comprehensive Mass Metrology. Weinheim ; New York: Wiley-VCH, 2000.
Cita MLAGlaser, Michael, và Manfred Kochsiek. Comprehensive Mass Metrology. Weinheim ; New York: Wiley-VCH, 2000.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.