Glick, M. A., Hoffman, R., & Reymann, L. A. (2003). Intellectual property damages: Guidelines and analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley.
استشهاد بنمط شيكاغوGlick, Mark A., Richard Hoffman, و Lara A. Reymann. Intellectual Property Damages: Guidelines and Analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley, 2003.
MLA استشهادGlick, Mark A., Richard Hoffman, و Lara A. Reymann. Intellectual Property Damages: Guidelines and Analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley, 2003.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.