Glick, M. A., Hoffman, R., & Reymann, L. A. (2003). Intellectual property damages: Guidelines and analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley.
Citación estilo ChicagoGlick, Mark A., Richard Hoffman, và Lara A. Reymann. Intellectual Property Damages: Guidelines and Analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley, 2003.
Cita MLAGlick, Mark A., Richard Hoffman, và Lara A. Reymann. Intellectual Property Damages: Guidelines and Analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley, 2003.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.