Glick, M. A., Hoffman, R., & Reymann, L. A. (2003). Intellectual property damages: Guidelines and analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley.
Stile di citazione ChicagoGlick, Mark A., Richard Hoffman, e Lara A. Reymann. Intellectual Property Damages: Guidelines and Analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley, 2003.
Citazione MLAGlick, Mark A., Richard Hoffman, e Lara A. Reymann. Intellectual Property Damages: Guidelines and Analysis. Hoboken, N.J.: J. Wiley, 2003.
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