APA Zitierstil

Lee, J., & Lee, H. Analysis and calibration of transient enhanced diffusion for indium impurity in nanoscale semiconductor devices.

Chicago Zitierstil

Lee, Jun-Ha., und Hoong-Joo Lee. Analysis and Calibration of Transient Enhanced Diffusion for Indium Impurity in Nanoscale Semiconductor Devices.

MLA Zitierstil

Lee, Jun-Ha., und Hoong-Joo Lee. Analysis and Calibration of Transient Enhanced Diffusion for Indium Impurity in Nanoscale Semiconductor Devices.

Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.