Lee, J., & Lee, H. Analysis and calibration of transient enhanced diffusion for indium impurity in nanoscale semiconductor devices.
Trích dẫn kiểu ChicagoLee, Jun-Ha., và Hoong-Joo Lee. Analysis and Calibration of Transient Enhanced Diffusion for Indium Impurity in Nanoscale Semiconductor Devices.
Trích dẫn MLALee, Jun-Ha., và Hoong-Joo Lee. Analysis and Calibration of Transient Enhanced Diffusion for Indium Impurity in Nanoscale Semiconductor Devices.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.