APA-viite

Lee, J., & Lee, H. Analysis and calibration of transient enhanced diffusion for indium impurity in nanoscale semiconductor devices.

Chicago-tyylinen lähdeviittaus

Lee, Jun-Ha., ja Hoong-Joo Lee. Analysis and Calibration of Transient Enhanced Diffusion for Indium Impurity in Nanoscale Semiconductor Devices.

MLA-viite

Lee, Jun-Ha., ja Hoong-Joo Lee. Analysis and Calibration of Transient Enhanced Diffusion for Indium Impurity in Nanoscale Semiconductor Devices.

Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.