Kim, Y., & Park, S. Analysis of the influence of the address electrode width on high-speed addressing using the VT close curve and dynamic vdata margin.
Trích dẫn kiểu ChicagoKim, Yongduk., và Sekwang Park. Analysis of the Influence of the Address Electrode Width On High-speed Addressing Using the VT Close Curve and Dynamic Vdata Margin.
Trích dẫn MLAKim, Yongduk., và Sekwang Park. Analysis of the Influence of the Address Electrode Width On High-speed Addressing Using the VT Close Curve and Dynamic Vdata Margin.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.