APA استشهاد

Yoon, J., Kim, J., & Lee, S. Resistive HTS-FCL EMTDC modeling by using probabilistic design methodology.

استشهاد بنمط شيكاغو

Yoon, Jae-Young., Jong-Yuk Kim, و Seung-Ryul Lee. Resistive HTS-FCL EMTDC Modeling By Using Probabilistic Design Methodology.

MLA استشهاد

Yoon, Jae-Young., Jong-Yuk Kim, و Seung-Ryul Lee. Resistive HTS-FCL EMTDC Modeling By Using Probabilistic Design Methodology.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.