00939nam a2200325 4500 DLU090097898 ##20091201 DLU eng eng us Josell, Daniel. Size-dependent resistivity in nanoscale interconnects / Daniel Josell, Sywert H. Brongersma, Zsolt Tokei. Conductivity Copper Electrical resistivity Interconnects Nanowires Size effects Brongersma, Sywert H. Tokei, Zsolt. Annual Review of Materials Research Vol. 39 (2009), p. 231-254 Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt DLU True Trương Bảo Trâm Anh G A BB Thư viện Trường Đại học Đà Lạt