Oh, G., & Lee, W. Material investigation and analysis using characteristic X-ray.
Chicago-tyylinen lähdeviittausOh, G., ja W. Lee. Material Investigation and Analysis Using Characteristic X-ray.
MLA-viiteOh, G., ja W. Lee. Material Investigation and Analysis Using Characteristic X-ray.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.