http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-2.xsd
Nghiên cứu khảo sát khả năng phân giải mật độ của thiết bị chụp cắt lớp điện toán (CT) thế hệ thứ 3
Tóm tắt Luận văn Thạc sĩ Vật lý kỹ thuật
Nguyễn Văn Diệm; Phù Chí Hoà, Phạm Ngọc Sơn hướng dẫn.