Transmission electron microscopy : A textbook for materials science. Part 2, Diffraction

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:  Williams, David B
Formaat: Sách
Taal:Undetermined
Gepubliceerd in:  Springer  2009
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh