Study on Material Properties of Si Thin Films Crystallized on Yttria-Stabilized Zirconia in Solid Phase by Pulsed Laser Annealing
Chapter 1: Introduction; Chapter 2: Theory of Solid-Phase Crystallization (SPC) of an Amorphous Film; Chapter 3: Fabrication Procedures and Evaluation Methods; ...
Enregistré dans:
| Auteur principal: | Mai Thị Kieu Lien |
|---|---|
| Langue: | eng |
| Accès en ligne: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=1959 |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|
Documents similaires
-
EFFECT OF TEMPERATURE ON ELECTRICAL PROPERTIES OF YTTRIA-DOPED CERIA AND YTTRIA-STABILIZED ZIRCONIA
par: Le, Thu Lam, et autres
Publié: (2023) -
Pulsed laser deposition of thin films :
Publié: (2007) -
Pulsed laser deposition of thin films : Applications-led growth of functional materials
Publié: (2007) -
Structural, electrical and optical properties of ZNO thin films grown at various plume-substrate angles by pulsed laser deposition /
par: Kim, Jae-Won. -
Nghiên cứu các đại lượng nhiệt độngcủa Zirconia được làm bền bởi Yttria /
par: Vũ Văn Hùng.