Citace podle APA

Sayil, S. (2020). Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques. 1st ed. 2018. Springer International Publishing.

Styl Chicago

Sayil, Selahattin. Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques. 1st Ed. 2018. Springer International Publishing, 2020.

Citace podle MLA

Sayil, Selahattin. Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques. 1st Ed. 2018. Springer International Publishing, 2020.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..