Brodusch, N., Demers, H., & Gauvin, R. (2020). Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018. Springer Singapore.
Παραπομπή Chicago StyleBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, και Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Παραπομπή MLABrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, και Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.