Brodusch, N., Demers, H., & Gauvin, R. (2020). Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018. Springer Singapore.
Citación estilo ChicagoBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, y Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Cita MLABrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, y Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.