Brodusch, N., Demers, H., & Gauvin, R. (2020). Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018. Springer Singapore.
Chicago-tyylinen lähdeviittausBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, ja Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
MLA-viiteBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, ja Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.