Brodusch, N., Demers, H., & Gauvin, R. (2020). Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018. Springer Singapore.
Stile di citazione ChicagoBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, e Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Citazione MLABrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, e Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
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