Brodusch, N., Demers, H., & Gauvin, R. (2020). Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018. Springer Singapore.
Chicago-стиль цитированияBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, và Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
MLA-цитированиеBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, và Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.