Brodusch, N., Demers, H., & Gauvin, R. (2020). Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018. Springer Singapore.
Trích dẫn kiểu ChicagoBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, và Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
MLA citiranjeBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, và Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Opozorilo: Ti citati niso vedno 100% točni.