Brodusch, N., Demers, H., & Gauvin, R. (2020). Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018. Springer Singapore.
Trích dẫn kiểu ChicagoBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, và Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Trích dẫn MLABrodusch, Nicolas, Hendrix Demers, và Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st Ed. 2018. Springer Singapore, 2020.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.