Hoàng, V. D., Phạm, T. T. A., Lê, N. B. T., Nguyễn, H. T., Phan, B. T., & Trần, C. V. (2023). Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS].
Chicago Style citaatHoàng, Văn Dũng, Thanh Tuấn Anh Phạm, Nguyễn Bảo Thư Lê, Hữu Trương Nguyễn, Bách Thắng Phan, en Cao Vinh Trần. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 � X � 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.
MLA citatieHoàng, Văn Dũng, et al. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 � X � 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.