Hoàng, V. D., Phạm, T. T. A., Lê, N. B. T., Nguyễn, H. T., Phan, B. T., & Trần, C. V. (2023). Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS].
Chicago Style CitationHoàng, Văn Dũng, Thanh Tuấn Anh Phạm, Nguyễn Bảo Thư Lê, Hữu Trương Nguyễn, Bách Thắng Phan, and Cao Vinh Trần. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 � X � 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.
MLA CitationHoàng, Văn Dũng, et al. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 � X � 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.