Hoàng, V. D., Phạm, T. T. A., Lê, N. B. T., Nguyễn, H. T., Phan, B. T., & Trần, C. V. (2023). Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS].

Hoàng, Văn Dũng, Thanh Tuấn Anh Phạm, Nguyễn Bảo Thư Lê, Hữu Trương Nguyễn, Bách Thắng Phan, và Cao Vinh Trần. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ‰� X ‰� 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.

Hoàng, Văn Dũng, et al. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ‰� X ‰� 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.