Hoàng, V. D., Phạm, T. T. A., Lê, N. B. T., Nguyễn, H. T., Phan, B. T., & Trần, C. V. (2023). Đánh giá sự tồn tại oxygen xen kẽ trong vật liệu nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 ≤ X ≤ 0,30] dựa trên phép phân tích phổ quang điện tử tia X [XPS].
Trích dẫn kiểu ChicagoHoàng, Văn Dũng, Thanh Tuấn Anh Phạm, Nguyễn Bảo Thư Lê, Hữu Trương Nguyễn, Bách Thắng Phan, và Cao Vinh Trần. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 � X � 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.
Trích dẫn MLAHoàng, Văn Dũng, et al. Đánh Giá Sự Tồn Tại Oxygen Xen Kẽ Trong Vật Liệu Nhiệt điện CuCr1-xMgxO2 [0,00 � X � 0,30] Dựa Trên Phép Phân Tích Phổ Quang điện Tử Tia X [XPS]. 2023.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.