Hoàng, V. L., & Đinh, S. H. (2009). Nâng cao đặc trưng của máy phát xung ngẫu nhiên để kiểm tra các thiết bị hạt nhân. Trường Đại học Đà Lạt.
Trích dẫn kiểu ChicagoHoàng, Văn Luận, và Sỹ Hiền Đinh. Nâng Cao đặc Trưng Của Máy Phát Xung Ngẫu Nhiên để Kiểm Tra Các Thiết Bị Hạt Nhân. Trường Đại học Đà Lạt, 2009.
Trích dẫn MLAHoàng, Văn Luận, và Sỹ Hiền Đinh. Nâng Cao đặc Trưng Của Máy Phát Xung Ngẫu Nhiên để Kiểm Tra Các Thiết Bị Hạt Nhân. Trường Đại học Đà Lạt, 2009.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.