Nâng cao đặc trưng của máy phát xung ngẫu nhiên để kiểm tra các thiết bị hạt nhân

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Hoàng, Văn Luận
Beste egile batzuk: Đinh, Sỹ Hiền
Formatua: Luận văn
Hizkuntza:Vietnamese
Argitaratua: Trường Đại học Đà Lạt 2009
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/1703
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt