Roth, V., & Vetter, T. (2020). Pattern Recognition. Springer International Publishing.
استشهاد بنمط شيكاغوRoth, Volker, و Thomas Vetter. Pattern Recognition. Springer International Publishing, 2020.
MLA استشهادRoth, Volker, و Thomas Vetter. Pattern Recognition. Springer International Publishing, 2020.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.