Roth, V., & Vetter, T. (2020). Pattern Recognition. Springer International Publishing.
Style de citation ChicagoRoth, Volker, et Thomas Vetter. Pattern Recognition. Springer International Publishing, 2020.
Style de citation MLARoth, Volker, et Thomas Vetter. Pattern Recognition. Springer International Publishing, 2020.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.