Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Wang, Ran, Chakrabarty, Krishnendu
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Springer International Publishing 2020
Konular:
Online Erişim:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/83787
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt