Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.
استشهاد بنمط شيكاغوAliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.
MLA استشهادAliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.