Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.
শিকাগো স্টাইলে সাইটেশনAliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.
এমএলএ সাইটেশনAliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.