Παραπομπή APA

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Παραπομπή Chicago Style

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Παραπομπή MLA

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.