Cita APA

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Citación estilo Chicago

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Cita MLA

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Precaución: Estas citas no son 100% exactas.