APA-viite

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Chicago-tyylinen lähdeviittaus

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

MLA-viite

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.