Cita APA

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Citación estilo Chicago

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Cita MLA

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.