Citazione APA

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Stile di citazione Chicago

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Citazione MLA

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

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