Styl cytowania APA

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Styl cytowania Chicago

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Styl cytowania MLA

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..