Citação norma APA

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Citação norma Chicago

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Citação norma MLA

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

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