APA Цитирование

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Chicago-стиль цитирования

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

MLA-цитирование

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.