APA-referens

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Chicago-stil citat

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

MLA-referens

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.