Trích dẫn APA

Aliev, T. (2020). Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US.

Trích dẫn kiểu Chicago

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Trích dẫn MLA

Aliev, Telman. Digital Noise Monitoring of Defect Origin. Springer US, 2020.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.