Bunke, H., Kandel, A., & Last, M. (2020). Applied Pattern Recognition. Springer Berlin Heidelberg.
استشهاد بنمط شيكاغوBunke, Horst, Abraham Kandel, و Mark Last. Applied Pattern Recognition. Springer Berlin Heidelberg, 2020.
MLA استشهادBunke, Horst, Abraham Kandel, و Mark Last. Applied Pattern Recognition. Springer Berlin Heidelberg, 2020.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.