Lienig, J., & Thiele, M. (2020). Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing.
Chicago ZitierstilLienig, Jens, und Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.
MLA ZitierstilLienig, Jens, und Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.