APA-viite

Lienig, J., & Thiele, M. (2020). Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing.

Chicago-tyylinen lähdeviittaus

Lienig, Jens, ja Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.

MLA-viite

Lienig, Jens, ja Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.

Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.