Lienig, J., & Thiele, M. (2020). Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing.
Citación estilo ChicagoLienig, Jens, và Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.
Cita MLALienig, Jens, và Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.