Lienig, J., & Thiele, M. (2020). Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing.
Trích dẫn kiểu ChicagoLienig, Jens, và Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.
MLA citiranjeLienig, Jens, và Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.
Opozorilo: Ti citati niso vedno 100% točni.