APA-referens

Lienig, J., & Thiele, M. (2020). Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing.

Chicago-stil citat

Lienig, Jens, och Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.

MLA-referens

Lienig, Jens, och Matthias Thiele. Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer International Publishing, 2020.

Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.