Ventura, S., & Luna, J. M. (2020). Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing.
استشهاد بنمط شيكاغوVentura, Sebastián, و José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.
MLA استشهادVentura, Sebastián, و José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.