Ventura, S., & Luna, J. M. (2020). Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing.
Παραπομπή Chicago StyleVentura, Sebastián, και José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.
Παραπομπή MLAVentura, Sebastián, και José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.