Cita APA

Ventura, S., & Luna, J. M. (2020). Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing.

Citación estilo Chicago

Ventura, Sebastián, và José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.

Cita MLA

Ventura, Sebastián, và José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.