Ventura, S., & Luna, J. M. (2020). Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing.
Citação norma ChicagoVentura, Sebastián, e José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.
Citação norma MLAVentura, Sebastián, e José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer International Publishing, 2020.
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