Fundamentals of dimensional metrology /

This book is about: Measurement and metrology; Measurement, Gaging, and tolerances; Statistics and metrology; Language and systems of measurement; Vernier instruments; ...

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Busch, Ted.
Beste egile batzuk: Harlow, Roger., Thompson, Richard.
Formatua: Liburua
Hizkuntza:English
Argitaratua: Albany, NY : Delmar, 1998.
Edizioa:3rd ed.
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Thư viện lưu trữ: Mạng thư viện Đại học Đà Nẵng